X射线衍射分析

X射线衍射分析（X-ray diffraction）是利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。将具有一定波长的X射线照射到晶质体上时，X射线因在晶质体内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示出与晶体结构相对应的特有的衍射现象。

衍射X射线满足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ，式中：λ是X射线的波长；θ是衍射角；d是结晶面间隔；n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即晶质内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线衍射角和面间隔与已知的标准衍射卡进行对照，即可确定试样物质的结晶结构。通过测定衍射X射线强度可进行测试样品的定性分析和定量分析。